Drive

UH110-UFD2

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UH110-UFD2

  • 采用先进LDPC ECC引擎结合3D NAND闪存,提升可靠度
  • 全区平均抹写技术 (Global Wear Leveling)
  • 闪存坏区管理
  • 闪存转换层:Page Mapping
  • 断电管理
  • S.M.A.R.T.功能
  • SLC-liteX
  • SMART Read Refresh™ 技术

Apacer 宇瞻科技UH110-UFD2 为新世代兼容于USB 3.2 Gen1 超高速的工业级U盘,最高传输速率可达5Gb/s,且向下兼容于USB2.0和USB1.1介面,符合USB 3.2规范,可提供高达275 MB/s 的出色性能,是取代传统IDE硬碟的最佳选择之一。

采用3D NAND 并提供比2D NAND 更高的效能,UH110-UFD2不仅采用LDPC(低密度奇偶校验)ECC 引擎来延长SSD 耐用性和提高数据可靠性,且具备SLC-liteX技术,提供高达300,000次写入/抹除次数(P/E cycles)的优异表现。同时,UH110-UFD2具有最高的耐用性和坚固性。通过特殊的 Chip-On-Board (COB) 封装技术,可让珍贵文件得到安全存储,并始终防尘、防水和防震。

在闪存管理方面,UH110-UFD2采用最新的Page Mapping 进阶闪存管理技术及各种实用功能,包括强大的硬体ECC引擎、平均抹写技术(Wear Leveling)、闪存坏区管理、S.M.A.R.T.功能、断电管理、和SMART Read Refresh™等。 UH110-UFD2具多样的扩展功能及成本效益的设计,提供优异的性能及高可靠度,非常适合嵌入式快闪储存应用。

规格表
  • 型号
    UH110-UFD2
  • 介面
    USB 3.2 Gen1
  • 接口
    USB Type-A
  • 板型
    USB Flash Drive
  • NAND 颗粒
    3D TLC
  • 容量
    16GB
  • 读取速度(MB/sec)
    Up to 275 MB/sec
  • 写入速度(MB/sec)
    Up to 105 MB/sec
  • ECC纠错功能
    Low-Density Parity-Check (LDPC) Code
  • IOPS (4K 随机写入)
    1300
  • 标准作业温度(°C)
    0 ~ + 70
  • 放置温度(°C)
    -40 ~ + 100
  • 外壳
    Yes
  • 冲击耐力
    Operating: Acceleration, 50(G)/11(ms)/half sine
    (compliant with MIL-STD-202G)
    Non-operating: Acceleration, 1500(G)/0.5(ms)/half sine
    (compliant with MIL-STD-883K)
  • 震动耐力
    Operation:7.69 Grms, 20~2000 Hz/random
    (compliant with MIL-STD-810G)
    Non-operation:4.02 Grms, 15~2000 Hz/random
    (compliant with MIL-STD-810G)
  • 电压
    5.0 V ± 5%
  • 用电量
    Active mode: 130 mA; Idle mode: 55 mA
  • 尺寸 (L x W x H )
    23.10 x 14.25 x 6.90 mm
  • MTBF (小时)
    >3,000,000

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