顯示屏量測-手持輝度計

LED屏精準解決方案

AL100W

》微機電(MEMS)光譜儀設計
》高輝度範圍量測                                                                  
》符合SJ/T 11281-2007規格   
》直覺式圖形和數據顯示
》ASR軟體 直覺式操作,可進行廣泛和快速的測量

專業光學檢測方案提供者

進一步了解 AL100W

 

專為LED顯示屏輝度量測打造的解決方案

宇瞻AL100W 分光色彩輝度計是特別為LED顯示屏的輝度量測打造的解決方案,感測端套筒式遮光罩設計,能排除環境干擾光束,準確取得單位面積的LED輝度,並符合光電檢測標準SJ/T 11281-2007。


5.5nm半波寬解析度 避免波長偏差

以LED背光為主的顯示屏,會受檢測儀器波長解析度不足影響而造成波長偏差,而根據各種實驗的數據顯示,每偏差1nm波長色度誤差可能達0.002以上。宇瞻輝度計AL100W 具備5.5nm半波寬解析度,相近於各大廠非手持裝置的5nm半波寬解析度,相對不會造成波長偏差。


輕巧手持獨創技術-微機電凹面光柵晶片

宇瞻AL100W 分光色彩輝度計採用獨創而先進的微機電凹面光柵晶片為核心,其具有分光及聚焦功能,再藉由精準演算法推導出凹形光柵的最佳曲率與光跡,讓AL100W 兼具高準確度、超小型、抗摔與耐候等特性。外觀輕巧並搭配觸控螢幕簡易介面,優化使用者的量測經驗,手持設計使量測空間不受設限。

 

ASR 面板光譜量測軟體與產線加值軟體

宇瞻ASR軟體支援所有宇瞻分光色彩輝度計,可量測輝度,色度,色溫,演色性,主波長以及光譜外,還可量測均勻度,色域,灰階校正等面板所需重要數據。多種量測方式除了單筆量測,還支援連續量測,包含即時多筆量測、時間軸多筆量測以及可設定量測筆數,讓工程師更容易觀察產品變化。
另有產線加值模式,可針對量測項目設定標準值,PASS/FAIL 顯示避免作業人員誤判,彈性化的客製服務可依客戶需求調整測試功能。

 

測試範圍廣

  • 測量範圍: 0.5 to 70K Nit

接觸/距離測量

  • 支援明處與暗處測量
  • 支援即時測量

SD卡儲存

  • 支援即時資料儲存
  • 可使用SD卡擴展容量
  • 使用ASR軟體輕鬆下載資料

資料視覺化和資訊圖形顯示

  • 多個圖像和圖形:CRI,1931x,y,1976u',v'和光譜圖

ASR軟體

  • 支援Windows作業系統
  • 易於透過電腦收集和測試資料
  • 圖形顯示色度圖,顯色性和頻譜分佈圖

快速測量

  • 自動測量時間1ms〜3000ms
  • 手動測量時間長達60秒

高容量鋰電池

  • 3350 mAh電池,提供連續測試4.8小時

手持設計

  • 採用MEMS技術達成小型化
  • 機器重量≤380g

Specification

下載

OPEN
  • eDM AL100W 型錄 1.34 MB