顯示屏量測-手持輝度計

消偏振精準解決方案

AL100/ AL110

》微機電(MEMS)光譜儀設計
》高輝度範圍量測                                                                  
》專利消偏振技術
 》直覺式圖形和數據顯示
》ASR軟體 直覺式操作,可進行廣泛和快速的測量

專業光學檢測方案提供者

進一步了解 AL100/AL110

輕巧手持獨創-微機電凹面光柵晶片

宇瞻可攜式AL100 / AL110分光色彩輝度計,基於MEMS微型凹面光柵的技術,與傳統的光譜儀必須配有準直鏡、平面光柵和聚焦面鏡相比,宇瞻的分光色彩輝度計透過微型凹面光柵技術實現了最小的產品尺寸。此外,由於創新的可擕式分光色彩輝度計允許以接觸或非接觸的方式進行測量,故可於亮處與暗處使用。其應用範圍從LCD、背光模組到OLED等;可量測其亮度、色溫、顯色性和光譜等,光譜的精度為±3%。

5.5nm半波寬解析度 避免波長偏差

以LED背光為主的顯示屏,會受檢測儀器波長解析度不足影響而造成波長偏差,而根據各種實驗的數據顯示,每偏差1nm波長色度誤差可能達0.002以上。宇瞻輝度計AL100/110具備5.5nm半波寬解析度,相近於各大廠非手持裝置的5nm半波寬解析度,相對不會造成波長偏差。

ASR 面板光譜量測軟體與產線加值軟體

宇瞻ASR軟體支援所有宇瞻分光色彩輝度計,可量測輝度,色度,色溫,演色性,主波長以及光譜外,還可量測均勻度,色域,灰階校正等面板所需重要數據。多種量測方式除了單筆量測,還支援連續量測,包含即時多筆量測、時間軸多筆量測以及可設定量測筆數,讓工程師更容易觀察產品變化。
另有產線加值模式,可針對量測項目設定標準值,PASS/FAIL 顯示避免作業人員誤判,彈性化的客製服務可依客戶需求調整測試功能。

 

光譜式分光輝度計 具高精準/可量色度優勢

宇瞻輝度計AL100/AL110/AL200/AL210擁有光譜式輝度計高精確輝度與色度的特性,同時,採用領先業界的消偏振專利技術,使量測品質全面性的提升。

光譜式分光輝度計的偏振問題解析

何謂偏振

偏振(Polarization)指的是光電磁波的電場振動方向。如單一方向來回振動的線偏振 Linear Polarization,及振動方向於行進中具規律性的 360 度旋轉並變化的圓偏振 Circular Polarization 和橢圓偏振 Elliptical Polarization。而光電磁波的能量強度與電場大小正相關,此會影響儀器在測量光時的精準度。

液晶螢幕的偏振原因

液晶顯示器主要由四個部件構成:
1.背光源(燈管或LED) 
2.偏光板
3.玻璃基板與薄模晶體(TFT液晶分子) 
4.彩色濾光片。

首先由背光源發光照在偏光板上,光線在穿過偏光板後,會被偏振化形成偏振光。液晶分子的規則排列是影響螢幕亮度的重要因素,其排列方式被電極產生的電壓影響,因此改變電壓可以使液晶扭轉進而改變偏振化光線的偏光角度,不同的偏光角度造成的光線強弱就會不同,在螢幕上就會顯示不同亮度或是灰階。

宇瞻科技消偏振專利 測量結果最精準

以光譜式輝度計測量顯示屏,其偏振光進到光譜儀時,透過光柵繞射現象會產生特定光強度,當旋轉儀器或改變位置時,測量的光強度會因此改變,使得量測數據產生誤差。故採用光譜式輝度計量測顯示屏時須先將偏振化消除,才能得到無特定偏振光的統計正確數據。AL100具備的消偏振專利,經實測,能大幅降低誤差發生率,提供更精準量測結果。

測試範圍廣

  • 測量範圍:AL100/110: 0.5 to 60K Nit

接觸/距離測量

  • 支援明處與暗處測量
  • 支援即時測量

SD卡儲存

  • 支援即時資料儲存
  • 可使用SD卡擴展容量
  • 使用ASR軟體輕鬆下載資料

資料視覺化和資訊圖形顯示

  • 多個圖像和圖形:CRI,1931x,y,1976u',v'和光譜圖

ASR軟體

  • 支援Windows作業系統
  • 易於透過電腦收集和測試資料
  • 圖形顯示色度圖,顯色性和頻譜分佈圖

快速測量

  • 自動測量時間1ms〜3000ms
  • 手動測量時間長達60秒

高容量鋰電池

  • 3350 mAh電池,提供連續測試4.8小時

手持設計

  • 採用MEMS技術達成小型化
  • 機器重量≤300g

Specification

下載

OPEN
  • eDM AL100 Brochure_en 1.36 MB